以脈沖電場為處理手段,研究電場強度、處理時間、殼聚糖質(zhì)量濃度和電導(dǎo)率等因素對殼聚糖大分子降解的影響。結(jié)果表明:殼聚糖降解產(chǎn)物的相對分子質(zhì)量隨著電場強度的增大而降低,且在高場強下降解顯著,電場強度為33.3kV/cm時,降解率達54.2%;降解速率隨處理時間的延長逐漸變緩,前20min和后70min的降解率分別為18.5%和8.5%;而殼聚糖質(zhì)量濃度和電導(dǎo)率的升高則不利于殼聚糖的降解。傅里葉變換紅外光譜分析(FT-IR)分析表明,降解前后殼聚糖的側(cè)鏈結(jié)構(gòu)未發(fā)生改變;原料及經(jīng)相同方法處理過的降解產(chǎn)物在2θ為10.4°和20.2°處均存在X射線衍射峰,表明產(chǎn)物的晶體結(jié)構(gòu)沒有發(fā)生明顯變化。
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