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損傷對獼猴桃果實電特性的影響
來源:食品科學(xué)網(wǎng) 閱讀量: 146 發(fā)表時間: 2017-06-07
作者: 唐 燕,杜光源,張繼澍
關(guān)鍵詞: 獼猴桃|損傷|電特性|敏感電參數(shù)
摘要:

以獼猴桃品種“海沃德”果實為材料,采后果實經(jīng)50cm高處自由落體碰傷處理,利用日置智能LCR測試儀測定了果實的6個電參數(shù)(復(fù)阻抗Z、并聯(lián)等效電容Cp、并聯(lián)等效電感Lp、損耗系數(shù)D、電導(dǎo)G、阻抗相角θ)在6個電場頻率(100、158、251、398、631kHz和1MHz)條件下的變化,以及隨著貯藏時間的延長各電參數(shù)的變化。結(jié)果表明:在(25±1)℃條件下,隨著電激頻率的增加,無論損傷果還是對照果,Z、Lp均呈逐漸減小的變化趨勢,Cp、G呈逐漸增加的變化趨勢,D呈現(xiàn)先上升后下降的變化趨勢,θ呈現(xiàn)先下降后上升的變化趨勢。損傷果采后Z在6個電激頻率條件下都顯著低于對照果,所以Z可作為區(qū)分其損傷與否的敏感電參數(shù)。在100kHz和251kHz兩個電激頻率條件下,損傷果采后D值顯著高于對照果,所以在這兩個特征頻率條件下D可作為區(qū)分“海沃德”獼猴桃果實損傷與否的敏感電參數(shù)。

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