
應(yīng)用光譜圖像技術(shù)進(jìn)行了蘋果內(nèi)部品質(zhì)無損檢測技術(shù)的研究。通過采集不同波長(分別為632、650、670、780、850、900nm)的光譜圖像,對所采集的光譜圖像灰度分布進(jìn)行洛倫茨分布(LD)、高斯分布(GD)、指數(shù)分布(ED)函數(shù)的擬合,通過比較發(fā)現(xiàn)洛倫茨分布為最優(yōu)灰度分布擬合函數(shù)。將蘋果硬度與洛倫茨分布函數(shù)擬合所得參數(shù)分別進(jìn)行多元線性回歸,建立最佳單波長、最佳雙波長組合、最佳三波長組合和最佳四波長組合的校正方程,相關(guān)系數(shù)分別是最佳單波長R為0.706;最佳雙波長0.837;最佳三波長R為0.869;最佳四波長R為0.880。結(jié)果表明:利用光譜圖像技術(shù)無損檢測蘋果硬度等內(nèi)部品質(zhì)是可行性的,為應(yīng)用計算機(jī)圖像對水果進(jìn)行內(nèi)部品質(zhì)的無損檢測提供了技術(shù)依據(jù)。
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