為快速、準確地判斷小麥籽粒的霉變程度,研究基于太赫茲時域光譜技術(shù),結(jié)合支持向量機(support vector machine,SVM)、隨機森林(random forest,RF)和極限學(xué)習機(extreme learning machine,ELM)的霉變小麥定性分析方法。首先,將小麥籽粒分為正常、輕度霉變、中度霉變和重度霉變4 類,利用CCT-1800太赫茲時域光譜儀獲取小麥樣本在0.1~4.0 THz波段的光譜數(shù)據(jù)。對比采用不同光譜預(yù)處理方法對判別結(jié)果的影響后,使用主成分分析、線性判別分析(linear discriminant analysis,LDA)、t分布隨機近鄰嵌入3 種方法對光譜數(shù)據(jù)進行降維,結(jié)果表明LDA的降維效果最好。最后,構(gòu)建基于SVM、RF和ELM的小麥霉變程度判別模型,結(jié)果顯示SVM的判別效果最好,當核函數(shù)選擇多項式核、誤差懲罰系數(shù)為1時,判別準確率高達98.61%,預(yù)測集均方根誤差值為0.142 9。本研究表明利用太赫茲光譜技術(shù)可實現(xiàn)小麥霉變程度的準確檢測,為食品安全和糧食貯藏檢測提供一種檢測手段。
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