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基于模擬退火算法優(yōu)化波長的面粉品質(zhì)檢測
來源:食品科學(xué)網(wǎng) 閱讀量: 169 發(fā)表時間: 2017-06-07
作者: 竇 穎,孫曉榮,劉翠玲,肖 爽
關(guān)鍵詞: 模擬退火算法;偏最小二乘法;面粉;近紅外光譜;定量分析
摘要:

模擬退火算法(simulated annealing algorithm,SAA)是一種隨機(jī)搜索、全局優(yōu)化算法,為提高近紅外光譜檢測面粉品質(zhì)模型的準(zhǔn)確度與穩(wěn)健性,實(shí)驗(yàn)提出基于SAA優(yōu)化波長,再結(jié)合偏最小二乘(partial least squares,PLS)法建模預(yù)測的定量模型,并對SAA中冷卻進(jìn)度表參數(shù)設(shè)置進(jìn)行對比分析。實(shí)驗(yàn)依據(jù)面粉中灰分含量梯度,隨機(jī)選取126 份樣本的近紅外光譜建立SAA-PLS模型。結(jié)果發(fā)現(xiàn),SAA從2 074 個波數(shù)優(yōu)選出70 個波數(shù),結(jié)合PLS建立的定量模型相關(guān)系數(shù)為0.976 0,交互驗(yàn)證均方根誤差(root mean square error of cross validation,RMSECV)為0.022,預(yù)測均方根誤差(root mean square error of prediction,RMSEP)為0.030 1,全譜建立的PLS模型相關(guān)系數(shù)為0.778 5,RMSECV為0.066 6,RMSEP為0.076 8。結(jié)果表明,基于SAA優(yōu)化特征譜區(qū),建立灰分定量模型是可行的,且準(zhǔn)確度與穩(wěn)健性明顯優(yōu)于全譜定量分析模型。

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