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基于光譜預處理結合遺傳算法優(yōu)化波長的面粉水分快速檢測
來源:食品科學網(wǎng) 閱讀量: 209 發(fā)表時間: 2017-08-30
作者: 孫曉榮,周子健,劉翠玲,付新鑫,竇穎
關鍵詞: 光譜預處理;遺傳算法;近紅外光譜;偏最小二乘法;面粉;水分
摘要:

基于光譜預處理及遺傳算法(genetic algorithm,GA)法優(yōu)化波長,再結合偏最小二乘(partial least squares,PLS)法建立面粉中水分的定量分析模型,對比在不同預處理方法下相關系數(shù)R2、校正標準差(root mean square error of calibration,RMSEC)、預測標準偏差(root mean square error of prediction,RMSEP)3 個指標,隨 機選擇130 份樣本建立預處理+GA+PLS定量分析模型,實驗結果為R2從0.955 2提高到0.977 7、RMSEC從0.375 8 降低到0.245 3、RMSEP從0.268降低到0.264。結果表明基于光譜預處理結合GA優(yōu)化波長來定量分析面粉中水分含 量是可行的,且準確性和誤差度皆優(yōu)于無優(yōu)化模型。

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